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OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪
OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪式样在线型离线型膜厚范围0.7~300μm*1测量宽度TD:500mm~最大10m x MD1mmTD:250mmxMD1mm测量间隔10ms ~设备尺寸81(W)x140(D)x343(H)mm459(H)x609(D)x927(H)mm重量4kg(仅测量头)60kg最大功…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 嵌入式膜厚检测仪
OTSUKA大塚电子 测量仪器 嵌入式膜厚检测仪OTSUKA大塚电子 测量仪器 嵌入式膜厚检测仪产品信息特 点● 采用分光干涉法● 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号）● 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统● 可嵌入至各种制造设备。● 实时测量膜厚● 可对应远…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300规格规格类型薄膜型标准型测量波长范围300-800nm450-780nm测量膜厚范围（SiO 2换算）3nm-35μm10nm-35μm光斑直径φ3mm / φ1.2mm样本量φ2005（高）mm测量时间0.1-10s内电源AC100V 10% 300VA尺寸、…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A3
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A3OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A3规格式样（自动XY平台型）OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波长范围230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚范围1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm ~ 92μm测定时间1秒 / 1点以内光径大小10μm (最小约3μm)感光…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A2
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A2OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A2规格式样（自动XY平台型）OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波长范围230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚范围1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm ~ 92μm测定时间1秒 / 1点以内光径大小10μm (最小约3μm)感光…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A1
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A1OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-A1规格式样（自动XY平台型）OPTM-A1OPTM-A2OPTM-A3波长范围230 ~ 800 nm360 ~ 1100 nm900 ~ 1600 nm膜厚范围1nm ~ 35μm7nm ~ 49μm16nm ~ 92μm测定时间1秒 / 1点以内光径大小10μm (最小约3μm)感光…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 Smart膜厚仪
OTSUKA大塚电子 测量仪器 Smart膜厚仪OTSUKA大塚电子 测量仪器 Smart膜厚仪产品信息特点● 可携带至现场的手持式● 可测量0.1μm单位● 具有形状的样品也可非破坏的测量● 不论基材材质、可测量其镀膜测量项目膜厚测量范围1μm～50μm测量重复性0.01μm测量时间1秒…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA
OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLAOTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA特点● 1台便可实再5个样品的连续测量实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品可以改变每个样品的条件进行测量● 可以对应从稀薄到浓厚的样品● 标准测量时间1分的高度测量自动调…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA AS50
OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA AS50OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA AS50产品信息特点● 1个单元可轻松连续测量5个样品。● 实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。● 标准测量时间为1分钟的…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 分析仪器 ELSZneo
OTSUKA大塚电子 分析仪器 ELSZneoOTSUKA大塚电子 分析仪器 ELSZneo特点● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位● 通过静态光散射法可测量粒子的…
2026-04-08