OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200产品信息特 点● 可测从0nm开始的低(残留)相位差● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)(相当于世界最快速的0.1秒以下来处理)● 无驱动部,重复再现性高● 设置的测量项目少,测量简单● 测量波长…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000规格測定原理小角光散射法光源半导体激光器 (波長785nm)检测器CMOS照相机測定散乱角度0.33~45散射图样Hv光散射、Vv光散射光斑直径約1mm动态范围120db以上 (使用HDR功能時)測定時間10msec~ ※…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-5000OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-5000产品规格型号FE-5000样品尺寸200x200毫米入射(反射)的角度范围45至90入射点直径*2关于φ1.2sup*3测定波长范围*5250至800纳米平台驱动方式手动/自动装载机兼容可尺寸,重量1300(W)900(D)1750(…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS-100nx NewOTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS-100nx New产品信息特 点使用独有的光谱仪实现高精度测量精度高的原因● 使用独有的高性能多通道光谱仪(型号:MCPD)对光谱进行解析● 可获取较多的透过率信息 实现高精度测量(获得的透射率信…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 MINUKOTSUKA大塚电子 测量仪器 MINUK规格分辨率 x , y6 9 1n m( 一次拍照)、4 8 8 n m( 合成)视野 x , y7 0 07 0 0μm分辨率 z10nm(相位差)视野 z700μm样品尺寸10 08 0t 2 0 mm(安装通用样品架时)样品台微动X Y样品台(自动) X:…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线产品信息 特点● 全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测● 硬件&软件均为创新设计● 作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援● 实现高精度测量(已取得专利)● 实现高…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/1300OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/1300规格式样型号SF-3/200SF-3/300SF-3/800SF-3/1300尺寸123(W)x 224(D)x 128(H)mm硅片测量厚度范围6~400μm10~775μm20~1000μm50~1300μm树脂厚度范围10~1000μm20~1500μm40~2000μm100~2600μ…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/800OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/800规格式样型号SF-3/200SF-3/300SF-3/800SF-3/1300尺寸123(W)x 224(D)x 128(H)mm硅片测量厚度范围6~400μm10~775μm20~1000μm50~1300μm树脂厚度范围10~1000μm20~1500μm40~2000μm100~2600μm…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/300OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/300规格式样型号SF-3/200SF-3/300SF-3/800SF-3/1300尺寸123(W)x 224(D)x 128(H)mm硅片测量厚度范围6~400μm10~775μm20~1000μm50~1300μm树脂厚度范围10~1000μm20~1500μm40~2000μm100~2600μm…
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/200OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3/200规格式样型号SF-3/200SF-3/300SF-3/800SF-3/1300尺寸123(W)x 224(D)x 128(H)mm硅片测量厚度范围6~400μm10~775μm20~1000μm50~1300μm树脂厚度范围10~1000μm20~1500μm40~2000μm100~2600μm…
2026-04-08