OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3规格式样SF-3膜厚测量范围0.1 μm ~ 1600 μm※1膜厚精度0.1% 以下重复精度0.001% 以下测量时间10msec 以下测量光源半导体光源测量口径φ27μm※2WD3 mm ~ 200 mm测量时间10msec 以下
2026-04-08OTSUKA大塚电子 测量仪器 MCPD-6800 3610COTSUKA大塚电子 测量仪器 MCPD-6800 3610C产品规格 MCPD-9800仕様型号MCPD-98002285C3095C3683C311C916C测量波长范围(nm)220~850300~950360~830360~1100900~1600膜厚范围※65nm~35μm65nm~50μm65nm~45μm65n…
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