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ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-4
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-4ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-4特色新的测量方法显著提升了速率稳定性。能力（CI值）测量提升了晶体板检测异常的能力。其出色的薄膜厚度和速率分辨率（0.0018 @5MHz）也非常适合低沉积率控制。它最多可同时控制8个元素。 （添加选项时…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-0
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-0ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTS-0特色新的测量方法显著提升了速率稳定性。能力（CI值）测量提升了晶体板检测异常的能力。其出色的薄膜厚度和速率分辨率（0.0018 @5MHz）也非常适合低沉积率控制。它最多可同时控制8个元素。 （添加选项时…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-6000G
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-6000GULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-6000G特色新的测量方法显著提升了速率稳定性。能力（CI值）测量提升了晶体板检测异常的能力。其出色的薄膜厚度和速率分辨率（0.0018 @5MHz）也非常适合低沉积率控制。它最多可同时控制8个元素。 （添…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1-EL
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1-ELULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1-EL特色新的测量方法显著提升了速率稳定性。能力（CI值）测量提升了晶体板检测异常的能力。其出色的薄膜厚度和速率分辨率（0.0018 @5MHz）也非常适合低沉积率控制。它最多可同时控制8个元素。 （添…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1
ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1ULVAC爱发科 沉积控制器 CRTM-R1特色新的测量方法显著提升了速率稳定性。能力（CI值）测量提升了晶体板检测异常的能力。其出色的薄膜厚度和速率分辨率（0.0018 @5MHz）也非常适合低沉积率控制。它最多可同时控制8个元素。 （添加选项…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1M
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1MULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1M特色高速测量：独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。可见光光谱支持：波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。紧凑型传感器单元：投影和接收传感器仅由光学元…
2026-04-21 -
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-3000A
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-3000AULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-3000A特色高速测量：独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。可见光光谱支持：波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。紧凑型传感器单元：投影和接收传感器仅由…
2026-04-20 -
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000A
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000AULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-2000A特色高速测量：独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。可见光光谱支持：波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。紧凑型传感器单元：投影和接收传感器仅由…
2026-04-20 -
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500A
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500AULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500A特色高速测量：独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。可见光光谱支持：波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。紧凑型传感器单元：投影和接收传感器仅由…
2026-04-20 -
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500M
ULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500MULVAC爱发科 高速光谱椭圆仪 UNECS-1500M特色高速测量：独特的快照方法提供最高20毫秒的高速测量。可见光光谱支持：波长范围可选择标准（530nm~750nm）和可见光光谱（380nm~760nm）。紧凑型传感器单元：投影和接收传感器仅…
2026-04-20